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華為邏輯電平設(shè)計規(guī)范

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邏輯電平設(shè)計規(guī)范錄1、邏輯電平簡介2、TTL器件和CMOS器件的邏輯電平32.1:邏輯電平的一些概念32.2:常用的邏輯電平2.3:TTL和CMOS的邏輯電平關(guān)系3、TTL和CMOS邏輯器件3.1:TTL和CMOS器件的功能分類63.2:TTL和MOS邏輯器件的工藝分類特點3.3:TTL和CMOS邏輯器件的電平分類特點3.4包含特殊功能的邏輯器件83.5:TTL和CMOS邏輯器件的選擇93.6:邏輯器件的使用指南4、TTL、CMOS器件的互連114.1:器件的互連總則114.2:5VTTL門作驅(qū)動源144.3:3.3VTT/CMOS門作驅(qū)動源144.4:5 V CMOSI門作驅(qū)動源144.5:2.5 V CMOS邏輯電平的互連145、EPLD和FPGA器件的邏輯電平155.1:概述155.2:各類可編程器件接口電平要求156、ECL器件的原理和特點1661:ECL器件的原理166.2:ECL電路的特性176.3:PECL/LVPECL器件的原理和特點186.4ECL器件的互連196.5:ECL器件的匹配方式196.6:ECL器件的使用舉例216.7:ECL器件的使用原則227、LVDS器件的原理和特點227.1:LVDS器件簡介227.2:LVDS器件的標(biāo)準(zhǔn)237.3:LVDS器件的工作原理247.4:LVDS的特點257.5:LVDS的設(shè)計267.6:LVDS信號的測試277.7LVDS器件應(yīng)用舉例288、GTL器件的原理和特點298.1:GTL器件的特點和電平298.2:GTL信號的PCB設(shè)計308.3:GTL信號的測試308.4GTL信號的時序319、附錄31
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